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蔡司掃描電鏡(SEM)+能譜儀(EDS)樣品制備的要求

   ▶蔡司掃描電鏡(SEM)+能譜儀(EDS)樣品要求:

  SEM試片制備一般原則為:

  A. 顯露出所欲分析的位置,當(dāng)樣品尺寸過大需切割取樣。

  B. 表面導(dǎo)電性良好,無磁性或弱磁性,不易潮解且無揮發(fā)性的固態(tài)樣品。

  C. 不得有松動的粉末或碎屑(以避免抽真空時粉末飛揚(yáng),污染鏡柱體)。

  D. 需耐熱,不得有熔融蒸發(fā)的現(xiàn)象。

  E. 不能含液狀或膠狀物質(zhì),以免揮發(fā)。

蔡司掃描電鏡

  F. 樣品若金屬或?qū)щ娦粤己,則表面不需任何處理,可直接觀察;而非導(dǎo)體表面則需鍍金或鍍碳。金屬膜較碳膜容易鍍,適用于SEM影像觀察,通常為Au或Au-Pd合金或Pt。而碳膜較適于X光微區(qū)分析,主要是因為碳的原子序低,可以減少X光吸收。

  定量分析的樣品要求:

  -在真空和電子束轟擊下穩(wěn)定;

  -樣品分析面需平整,一般要求垂直于入射電子束;

  -有良好的導(dǎo)電和導(dǎo)熱性能;

  -均質(zhì)、無污染;

  -樣品尺寸要盡量小;

  無法滿足上述要求的樣品,定量結(jié)果準(zhǔn)確度降低。

想要了解更多這個設(shè)備的參數(shù)和報價 請聯(lián)系15850350764

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